Filtros de paso de banda de 532nm

Los filtros de paso de banda de 532nm están diseñados para transmitir una banda seleccionada de longitudes de onda verdes, centrada cerca de 532nm, y reducir al mismo tiempo la luz no deseada fuera de banda.

Aplicaciones:
- Limpieza de la línea láser de 532nm de láseres DPSS o Nd:YAG con duplicación de frecuencia
- Limpieza de la excitación en espectroscopia Raman o láser
- Excitación de fluorescencia con fuentes láser verdes de 532nm
- Aislamiento de la señal de 532nm en el lado del detector, antes de cámaras, fotodiodos, PMTs o espectrómetros
- Filtrado de LED verdes y fuentes visibles de banda ancha, y configuraciones de medición óptica

Opciones de ancho de banda:
- 1nm, 2nm y 3nm FWHM para el aislamiento preciso de la línea láser de 532nm
- 10nm, 15nm y 20nm FWHM para aplicaciones prácticas de limpieza láser, control de excitación o captación de señales en el lado del detector
- 35nm y 50nm FWHM para iluminación de banda verde más amplia, obtención de imágenes o filtrado de fuentes

Seleccione el ancho de banda según la fuente láser, la estabilidad de la fuente, la señal objetivo, la sensibilidad del detector, el requisito de transmisión y el intervalo de bloqueo.
532nm Bandpass Filters
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Filtro

Guía de selección

Láser Nd:YAG / DPSS con duplicación de frecuencia a 532nm

Utilice una CWL de 532nm con una FWHM de 1–10nm para la limpieza de la línea láser de 532nm, el aislamiento de la fuente o la selección de la señal láser en el lado del detector.

532nm se genera habitualmente mediante sistemas láser verdes Nd:YAG o DPSS con duplicación de frecuencia. Para el filtrado de líneas láser, las especificaciones clave incluyen la coincidencia de la CWL cerca de 532nm, la FWHM, la transmisión a 532nm, el bloqueo OD en el intervalo de longitudes de onda no deseado y la capacidad de manejo de potencia para el tamaño del haz.

532nm Excitación para espectroscopia Raman o láser

Utilice CWL 532nm con 1–3nm FWHM en el lado de la fuente para limpiar la excitación de espectroscopia Raman o láser de 532nm.

En sistemas de espectroscopia Raman y láser, el filtro de paso de banda situado en el lado de la fuente ayuda a limpiar el láser de excitación antes de la muestra. La trayectoria de detección suele utilizar una estrategia de filtrado de paso largo, de borde o de muesca para rechazar la línea de Rayleigh de 532nm y dejar pasar la señal desplazada por Raman.

Excitación de fluorescencia 532nm

Utilice una CWL de 532nm con una FWHM de 10–20nm para sistemas de fluorescencia diseñados en torno a la excitación con láser verde de 532nm.

En microscopía de fluorescencia, citometría de flujo o sistemas de detección de fluorescencia que utilizan una fuente láser de 532nm, el filtro suele colocarse en el lado de excitación, antes de la muestra. El objetivo es definir la banda de excitación verde y reducir la diafonía hacia la trayectoria de emisión. El filtro del lado de emisión debe estar centrado en la banda de emisión real, no en 532nm.

LED verde o fuente visible de banda ancha

Utilice una CWL de 532nm con una FWHM de 20–50nm para seleccionar una banda verde de una fuente LED, de xenón, halógena o de luz blanca con un espectro más amplio.

Con iluminación LED o visible de banda ancha, el filtro extrae de un espectro más amplio una banda verde centrada en 532nm. Utilice una FWHM de 20nm para obtener una selección más definida de la banda verde, o una FWHM de 35–50nm cuando sea más importante obtener una señal transmitida más alta para iluminación, obtención de imágenes o detección.

Aislamiento de la señal de 532nm en el lado del detector

Utilice una CWL de 532nm con una FWHM de 1–20nm delante de un fotodiodo de silicio, una cámara CMOS/CCD, un PMT o la entrada de un espectrómetro cuando la señal objetivo esté cerca de 532nm.

Para el filtrado en el lado del detector, el filtro mejora la relación señal-fondo al transmitir la señal de 532nm y reducir el fondo visible o de banda ancha no deseado. Utilice una FWHM de 1–3nm para obtener un mayor aislamiento de longitudes de onda, o una FWHM de 10–20nm cuando se necesiten un nivel de señal más alto y una mayor tolerancia de alineación.

Nota de aplicación

US Patent Application 2005 0162648 -System and Method for Multiple Laser Flow Cytometry

Solicitud de patente de EE. UU. 2005/0162648 - Sistema y método de citometría de flujo con múltiples láseres

Contexto: Esta solicitud de patente describe un citómetro de flujo, un dispositivo utilizado para contar y analizar partículas microscópicas, como células, suspendiéndolas en una corriente de fluido y haciéndolas pasar por un aparato de detección electrónica.

Uso del filtro: El filtro de paso de banda de 532nm se coloca específicamente delante de un detector de fotodiodo.

Función: Se utiliza para aislar la luz dispersada o la fluorescencia que corresponde a la fuente de excitación 532nm. Cuando una partícula atraviesa el haz láser 532nm, dispersa luz. El filtro garantiza que el detector solo detecte esta longitud de onda específica, bloqueando la luz ambiental o las señales de otros láseres, como los láseres rojos o azules utilizados simultáneamente en el sistema.

Resultado: El filtro permite que el sistema active con precisión un evento de detección. «Cuando el fotodiodo con el filtro de paso de banda 532 nm detecta una respuesta, se [confirma que] la partícula está frente al láser 532 nm», lo que permite controlar con precisión el momento y la secuencia de adquisición de datos.

US Patent 145 08 DE112004002460 related - Nonlinear Optical Molecular Orientation

Patente de EE. UU. 7,145,108 / DE112004002460 (relacionada) - Orientación molecular óptica no lineal

Contexto: Estos documentos de patente suelen estar relacionados con la medición de la generación de segundo armónico (SHG), un proceso óptico no lineal en el que dos fotones interactúan para formar un nuevo fotón con el doble de energía (la mitad de la longitud de onda).

Uso del filtro: Se coloca un filtro de paso de banda de 532nm delante de un detector de tubo fotomultiplicador (PMT).

Función: En esta configuración, un láser infrarrojo (1064nm) incide sobre una muestra. La muestra genera una señal débil de «segundo armónico» exactamente a la mitad de la longitud de onda: 532nm. El filtro de paso de banda es fundamental porque bloquea la intensa luz del láser de bombeo de 1064nm y permite que solo la débil señal de 532nm llegue al detector.

Resultado: Se obtiene una alta relación señal-ruido (SNR), lo que permite detectar la orientación molecular en materiales como zeolitas o tejidos biológicos sin saturar el sensible PMT con el haz láser infrarrojo original.

Patente de EE. UU. 11,175,232 - Sensores micro-Raman ultracompactos para medición a distancia

Contexto: Esta patente, cedida a la NASA, describe un sensor Raman compacto diseñado para la exploración planetaria (p. ej., vehículos lunares) que permite identificar minerales y sustancias desconocidos de forma remota (detección a distancia) sin necesidad de recoger físicamente una muestra.

El filtro de paso de banda se utiliza como: Un filtro de limpieza de línea láser en la trayectoria de excitación.

En esta configuración óptica, se utiliza un láser pulsado de 532nm para iluminar el objetivo. El filtro de paso de banda de 532nm se coloca inmediatamente después de la fuente láser, pero antes del expansor de haz o del objetivo.

Su función específica es transmitir únicamente la estrecha línea láser de 532nm, al tiempo que bloquea cualquier «ruido espectral» no deseado, como el resplandor del plasma o la emisión espontánea (fluorescencia) generada por el propio equipo láser.

Cómo lograr este resultado:

Alta pureza de la señal: Al eliminar las longitudes de onda distintas de 532nm antes de que lleguen a la muestra, el filtro evita la aparición de «picos falsos» en los datos.

Sensibilidad mejorada: Como las señales Raman son extremadamente débiles (1 fotón entre un millón), incluso un leve ruido de fondo procedente de la fuente láser puede ocultarlas. El filtro de paso de banda garantiza que cualquier luz detectada en longitudes de onda distintas de 532nm proceda realmente de la muestra (dispersión Raman) y no de una fuga del láser.

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