Filtros de paso de banda de 632.8nm / 633nm

Los filtros de paso de banda de 632.8nm / 633nm están diseñados para transmitir una banda seleccionada de longitudes de onda rojas alrededor de la línea láser He-Ne y reducir la luz no deseada fuera de la banda de paso.

Aplicaciones:
- Limpieza de la línea láser He-Ne de 632.8nm
- Sistemas de interferometría óptica, alineación y metrología
- Aislamiento de señales láser rojas en el lado del detector antes de cámaras, fotodiodos o espectrómetros
- Montajes de medición y calibración basados en láser
- Detección óptica en la región roja cuando la señal objetivo está cerca de 632–633nm

Opciones de ancho de banda:
- FWHM de 2.9nm y 3nm para un aislamiento más estrecho de la línea láser He-Ne
- FWHM de 10nm para una limpieza práctica de señales láser de 632nm, 632.8nm o 633nm, con mayor margen en la banda de paso

Seleccione el ancho de banda según la longitud de onda del láser, la tolerancia de longitud de onda, la sensibilidad del detector, el intervalo de bloqueo y el nivel de señal requerido.

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632.8nm / 633nm Bandpass Filters
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Guía de selección

Limpieza de línea láser He-Ne de 632.8nm

Utilice una CWL de 632.8nm con una FWHM de 2.9–10nm para depurar la línea láser He-Ne, aislar la fuente o seleccionar la señal láser en el lado del detector.

632.8nm es la línea roja estándar del láser de helio-neón. Para los sistemas láser He-Ne, las especificaciones clave incluyen la coincidencia de la CWL cerca de 632.8nm, la FWHM, la transmisión en la línea láser y el bloqueo OD en el intervalo de longitudes de onda no deseadas.

Interferometría óptica, alineación y metrología

Utilice una CWL de 632.8nm o 633nm con una FWHM de 2.9–10nm para interferometría, alineación, metrología y trayectos de medición basados en láser.

En estos sistemas, el filtro ayuda a aislar la línea láser roja y a reducir el fondo no deseado de la fuente o la luz parásita que llega al trayecto óptico o al detector. Utilice una FWHM de 2.9–3nm para un mayor aislamiento de la línea láser, o una FWHM de 10nm cuando se prefiera un mayor margen en la banda de paso.

Aislamiento de la señal roja en el lado del detector

Utilice una CWL de 632.8nm o 633nm con una FWHM de 2.9–10nm delante de un fotodiodo de silicio, una cámara CMOS/CCD, un PMT o la entrada de un espectrómetro cuando la señal objetivo esté cerca de la línea roja de He-Ne.

Para el filtrado en el lado del detector, el filtro mejora la relación señal/fondo al transmitir la señal del láser rojo y reducir el fondo visible o de banda ancha no deseado. Utilice una FWHM de 2.9–3nm para obtener un mayor aislamiento espectral, o una FWHM de 10nm cuando se necesiten un mayor nivel de señal y más tolerancia de alineación.

Nota de aplicación

US4678324A - Range Finding by Diffraction

US4678324A - Medición de distancia mediante difracción

Contexto: Esta patente describe un sistema de medición de distancias 3D, utilizado habitualmente en microscopía o visión artificial, que proyecta un patrón de difracción sobre un objeto para medir su perfil superficial y profundidad.

Uso del filtro: Se coloca un filtro de paso de banda 632.8 nm delante del sistema de detección (cámara o fotodetector).

Función: El sistema suele utilizar una fuente láser de helio-neón (HeNe) para proyectar la red de difracción. El filtro bloquea toda la luz ambiental (luz solar e iluminación de la sala), mientras permite que la luz láser específica de 632.8 nm reflejada por el objeto llegue al detector.

Resultado: Esto permite obtener una alta relación señal-ruido, lo que garantiza que el sistema calcule la distancia basándose únicamente en el patrón láser proyectado y no en las sombras ni en la iluminación de fondo, con lo que se obtiene una medición precisa de la profundidad a escala submicrométrica.

US6809859B2 - Optical Filter and Fluorescence Spectroscopy System

US6809859B2 - Filtro óptico y sistema de espectroscopia de fluorescencia

Contexto: Esta patente detalla la construcción de filtros ópticos de película delgada de alto rendimiento para sistemas de espectroscopia de fluorescencia, en los que las muestras biológicas se excitan mediante láseres para que emitan luz.

Uso del filtro: Un filtro de paso de banda 632 nm actúa como filtro de excitación.

Función: Limpia la salida de una fuente láser roja (como un láser de HeNe o de diodo rojo), eliminando cualquier «ruido» espectral o banda lateral para garantizar que solo llegue a la muestra luz pura de 632 nm y excite colorantes fluorescentes rojos (como Alexa Fluor 633 o Cy5).

Resultado: Esto minimiza el «ruido de fondo» de la señal de fluorescencia. Al garantizar que solo la longitud de onda de excitación incida en la muestra, el detector puede distinguir con mucha mayor claridad la débil señal de fluorescencia emitida (desplazada hacia una longitud de onda mayor), lo que permite obtener imágenes biológicas de alto contraste.

US5726805A - Optical Filter Including a Sub-wavelength Periodic Structure

US5726805A - Filtro óptico que incluye una estructura periódica sublongitud de onda

Contexto: Esta patente abarca filtros de «resonancia de modo guiado» (GMR), que utilizan estructuras de rejilla a escala nanométrica para reflejar o transmitir intervalos de longitudes de onda extremadamente estrechos, y suelen utilizarse en sensores químicos.

Uso del filtro: La patente describe una función de filtro de paso de banda 632.8 nm creada por la propia estructura sublongitud de onda y diseñada para actuar como un filtro de sonda de banda estrecha.

Función: En una configuración de detección química, este filtro está ajustado para reflejar prácticamente 100% del haz de sonda de 632.8 nm mientras transmite otras longitudes de onda. Cuando una sustancia química se une a la superficie del filtro, la resonancia se desplaza y la luz de 632.8 nm se transmite repentinamente (o deja de reflejarse).

Resultado: Esto convierte la presencia de una sustancia química en una señal óptica legible. El resultado es un detector químico sin marcadores y de alta sensibilidad que puede identificar cambios mínimos en el índice de refracción, causados por gases o materia biológica, mediante la monitorización de la intensidad del haz de 632 nm.

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