Filtros de paso de banda para la inspección subsuperficial
Los filtros de paso de banda para inspección subsuperficial están diseñados para transmitir bandas seleccionadas del infrarrojo cercano (NIR) y del infrarrojo de onda corta (SWIR), a la vez que reducen la luz no deseada fuera de banda y las reflexiones superficiales. Dado que estas longitudes de onda específicas pueden penetrar materiales opacos a la luz visible, como el silicio, determinados plásticos y los tejidos biológicos, estos filtros permiten que los sensores ópticos capten estructuras internas, capas y defectos ocultos.
Aplicaciones:
- Inspección de semiconductores mediante el aislamiento de longitudes de onda SWIR para detectar grietas internas, marcas de alineación y defectos estructurales en obleas de silicio
- Imagen médica y biológica, como la tomografía de coherencia óptica (OCT), para la penetración profunda en tejidos y el análisis de estructuras subsuperficiales
- Ensayos industriales no destructivos (NDT) para inspeccionar la integridad interna de plásticos, materiales compuestos y materiales de embalaje opacos