• Wafer Inspection

    晶圆检测中使用的带通滤光片 (BPF) 是高度专业化的超窄滤滤光片,其中心波长 (CWL)与检测工具所采用的强大单色光源(通常是激光器)精确匹配。

    具体参数(波长和 FWHM)完全取决于检测技术、被检测的晶圆层以及目标缺陷的大小。

    需要定制吗?