晶圆检测

晶圆检测中使用的带通滤光片 (BPF) 是高度专业化的超窄滤滤光片,其中心波长 (CWL)与检测工具所采用的强大单色光源(通常是激光器)精确匹配。

具体参数(波长和 FWHM)完全取决于检测技术、被检测的晶圆层以及目标缺陷的大小。

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Bandpass Filters for Wafer Inspection
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中心波长(nm)
半高宽 (纳米)
光密度(OD)

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