晶圆检测用带通滤光片

用于晶圆检测的带通滤光片(BPFs)是高度专业化的超窄带滤光片,其中心波长(CWL)与检测设备所用的高功率单色光源(通常为激光器)精确匹配。

具体参数(波长和FWHM)完全取决于检测技术、受检晶圆层以及目标缺陷的尺寸。

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Bandpass Filters for Wafer Inspection
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