用于次表面检测的带通滤光片

用于表面下检测的带通滤光片可透射选定的近红外（NIR）和短波红外（SWIR）波段，同时减少不需要的带外光和表面反射。由于这些特定波长可以穿透对可见光不透明的材料，例如硅、某些塑料和生物组织，因此这些滤光片使光学传感器能够采集内部结构、层次和隐藏缺陷。

应用：

• 半导体检测，通过分离SWIR波长来检测硅晶圆内部的裂纹、对准标记和结构缺陷
• 医疗和生物成像，例如光学相干断层扫描（OCT），用于深层组织穿透和表面下结构分析
• 工业无损检测（NDT），用于检查塑料、复合材料和不透明包装材料的内部完整性