表面下検査用バンドパスフィルター
表面下検査用バンドパスフィルターは、選択した近赤外（NIR）および短波赤外（SWIR）帯域を透過しながら、不要な帯域外光と表面反射を低減するように設計されています。これらの特定波長は、シリコン、一部のプラスチック、生体組織など、可視光を透過しない材料を透過できるため、光学センサーによる内部構造、層、隠れた欠陥の撮像が可能になります。
用途：
- SWIR波長を分離し、シリコンウェハー内部の亀裂、アライメントマーク、構造欠陥を検出する半導体検査
- 光干渉断層撮影（OCT）など、深部組織への光の到達と表面下構造の解析を目的とする医療および生体イメージング
- プラスチック、複合材料、不透明な包装材料の内部健全性を検査する産業用非破壊検査（NDT）