如何测量光密度?

|K WONG

测量光密度 (OD) 时,需要比较进入材料的光量与成功透过材料的光量。该测量是表征材料的基础,尤其适用于评估中性密度 (ND) 滤光片等固体光学元件或分析液体悬浮液。

下面将分别说明核心原理、所用仪器和标准测量流程。

基本方程

光密度是一个对数比值。它用于衡量光的衰减,即材料吸收或散射了多少光。

数学定义为:

OD = log10(I0 / I)

其中:

  • I0 是入射光(照射到样品上的光)的强度。
  • I 是透射光(从另一侧射出的光)的强度。

由于它也可以用透射率(T)表示,其中 T = I / I0,因此该公式通常写为:

OD = log10(1 / T) = -log10(T) 

所用仪器

仪器的选择取决于测量对象是固体光学元件还是液体样品。

  • 分光光度计:这是测量液体(使用比色皿)和固体光学滤光片最常用的仪器。它可以扫描较宽的波长范围,测量光密度随不同光色的变化。
  • 激光器和功率计测量装置:常用于测试特定的高 OD 光学滤光片。激光器在特定波长下提供高度稳定的 I0,灵敏的光电二极管或热式功率计则测量透射的I。
  • 密度计: 通常用于摄影和印刷领域,以测量半透明胶片或反射表面的光学密度。

测量过程

无论使用哪种具体仪器,基本工作流程都保持一致:

  1. 预热和波长选择:等待光源和探测器达到稳定状态。由于 光密度 在很大程度上取决于波长,因此需要选择要测量的特定光波长。
  2. 校准(空白测量): 这是一个关键步骤。仪器在未放置样品的情况下测量光强,以确定入射光( I0)的基线。对于液体样品,使用仅装有溶剂的比色皿(“空白”)进行测量。测试固体光学元件时,通常在开放光路中测量基线。
  3. 测量: 将光学元件或样品置于光路中。探测器测量新的、降低后的光强(I)。
  4. 计算: 仪器计算 I0 与 I 之比的对数,并输出光密度值。例如,OD 为 1.0 表示有 10% 的光透射,OD 为 2.0 表示有 1% 的光透射,OD 为 3.0 表示有 0.1% 的光透射。

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