测量光密度 (OD) 涉及比较进入材料的光量与成功穿过材料的光量。此测量是表征材料的基础,尤其是在评估中性密度 (ND) 滤光片等固体光学元件或分析液体悬浮液时。
以下是核心原理、使用的仪器和标准测量过程的详细说明。
基本方程
光密度是对数比率。它衡量光的衰减——材料吸收或散射了多少光。
数学定义是:
OD = log10(I0 / I)
其中:
- I0 是入射光强度(照射到样品上的光)。
- I 是透射光强度(从另一侧发出的光)。
因为它也可以用透射率 (T) 表示,其中 T = I / I0,因此该公式通常写为:
OD = log10(1 / T) = -log10(T)
使用的仪器
仪器的选择取决于您是测量固体光学元件还是液体样品。
- 分光光度计: 适用于液体(使用比色皿)和固体光学滤光片的最常用工具。它们可以扫描广泛的波长范围,以测量光密度在不同颜色光下的变化。
- 激光和功率计设置: 通常用于测试特定的高 OD 光学滤光片。激光在特定波长下提供高度稳定的 I0,而灵敏的光电二极管或热功率计测量透射光强度 I。
- 密度计: 通常用于摄影和印刷,以测量半透明胶片或反射表面的暗度。
测量过程
无论具体仪器如何,通用工作流程都保持一致:
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