Bandpassfilter für die Materialcharakterisierung
Bandpassfilter für die Materialcharakterisierung sind so ausgelegt, dass sie ausgewählte Spektralbereiche transmittieren und gleichzeitig unerwünschtes Licht außerhalb des Durchlassbereichs sowie Hintergrundrauschen reduzieren. Bei analytischen Verfahren wie Spektroskopie, Ellipsometrie und Reflektometrie isolieren diese Filter bestimmte Wellenlängen, um die optischen Eigenschaften, die chemische Zusammensetzung und die strukturellen Merkmale fester und flüssiger Proben zu messen.
Anwendungen:
- Raman- und Photolumineszenzspektroskopie zur Isolierung schwacher Emissionssignale für die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung und der Kristallstrukturen
- Optische Ellipsometrie und Reflektometrie zur Messung der Dicke dünner Schichten und der Brechungsindizes bei der Herstellung von Halbleitern und optischen Beschichtungen
- Hyperspektrale und multispektrale Bildgebung zur Sortierung von Materialien wie Kunststoffen oder Mineralien anhand ihrer spezifischen spektralen Reflexionssignaturen